技術文章
TECHNICAL ARTICLES質量分析器是質譜儀的重要部件，位于離子源和檢測器之間，其功能是將離子源中產生的樣品離子按質荷比（m/z）進行分離。三重聚焦飛行時間質量分析器(TRIpleFocusingTimeofflight,簡稱TRIFT)是ULVAC-PHI的TOF質量分析器。自1988年搭載TRIFT質量分析器的TOF-SIMS設備商用以來，ULVAC-PHI已將其應用于多代TOF-SIMS產品中。經過三十多年的持續優化與迭代，TRIFT憑借其寬通能、高景深和較大二次離子接收角等獨特設計，已成為目前...
Lexsyg釋光探測器|從紫外到X射線隨著紫外線（UV）輻射對人體健康的影響日益受到關注，開發高靈敏度的紫外線劑量材料成為科研熱點。近期，拉脫維亞大學研究團隊在《AlN+Y?O?陶瓷對太陽光與X射線輻照的熱釋光響應》研究中取得重要進展，揭示了氮化鋁（AlN）陶瓷在紫外線劑量測定中的潛力，而實驗的關鍵數據正是通過FreibergInstruments的lexsygresearchTL/OSLReader精確獲取。研究背景AlN陶瓷因寬禁帶特性、高熱釋光（TL）響應及與人體皮膚相...
在現代科學研究與工業生產中，X射線衍射（XRD）技術幫助人類洞察物質內部的原子排列規律。作為材料表征領域的核心裝備，xrd衍射系統通過精準捕捉X射線與晶體相互作用產生的衍射信號，為科研人員提供關鍵的結構信息。下面將深入解析其基本構成及重要作用，展現這項技術的非凡魅力。一、基本構成：精密協作的四大模塊1、X射線源：這是系統的“心臟”，通常采用銅靶或鉬靶作為陽極材料，當高速電子轟擊金屬靶材時，會產生特定波長的特征X射線。這些電磁波具有與晶體晶格相匹配的波長范圍，是引發衍射現象的基...
在TOF-SIMS數據的解析過程中，通常需要將實測二次離子的質荷比與標準數據庫中記錄的原子離子或分子離子的精確質量數進行比對，以確定二次離子所對應的元素或分子結構。因此，準確的質量校準是TOF-SIMS數據處理中至關重要的一步。本期技術文章將介紹如何正確進行TOF-SIMS數據的質量校準。一、TOF-SIMS質量校準原理在TOF-SIMS分析中，質譜儀記錄的原始信號為二次離子到達探測器所用的飛行時間及其信號強度。二次離子的質荷比是根據其飛行時間計算得出的。這一轉換過程通常由采...
Lexsyg釋光探測器|在考古測年領域應用分享文章來源:https://doi.org/10.1111/arcm.12435引言近日，德國科隆大學聯合考古團隊在BergischGladbach森林中發現了一處古羅馬石灰窯遺址，在羅馬帝國邊境外的“大日耳曼尼亞”地區確認了羅馬時期的石灰生產活動。這項研究結合熱釋光（TL）與后紅外激發釋光（pIRIR）技術，成功揭示了窯爐的結果使用年代，相關成果發表于國際有名期刊。突破性測年技術：TL與pIRIR雙劍合璧研究團隊從窯壁、周邊沉積物...
在材料科學的領域，我們一直在追尋一雙更銳利的“眼睛”，以期窺見構成萬物的原子與分子的真實面貌。然而，真正的挑戰在于，原子世界并非一幅靜止的畫卷。原子始終在它們平衡位置附近進行著微小的、快速的??熱振動??，這種“細微顫動”是理解材料性能的關鍵。如今，高分辨率X射線衍射儀（HRXRD）的突破性發展，正讓我們得以“看清”這激動人心的動態圖景，將材料研究從靜態結構解析推向動態行為探測的全新高度。??一、從“靜態快照”到“動態影像”的飛躍??傳統的X射線衍射技術能夠為我們提供材料晶體...
在當今科技迅猛發展的時代，對于物質內部結構的精準探索已成為眾多領域突破的關鍵。三維重構成像X射線顯微鏡作為一種先進的科學儀器，正以其優勢為我們打開了一扇通向微觀世界的新大門。該設備利用X射線穿透性強的特點，能夠對各種樣品進行非破壞性的內部掃描。通過采集不同角度下的投影數據，并運用復雜的算法進行重建，它可以生成高分辨率的三維圖像，清晰地展現出物體內部的精細結構。無論是金屬材料中的晶粒分布、復合材料中的界面結合情況，還是生物組織內的細胞形態與排列方式，都能被準確地呈現出來。在材料...
隨著科學技術的進步，人們對微觀世界的探索需求日益增長。X射線三維顯微鏡作為一種分析工具，以其成像能力和廣泛的應用范圍，成為了科研人員手中的一把利器。這款顯微鏡采用了先進的X射線源和探測器組合，能夠產生高質量的三維圖像。與傳統光學顯微鏡相比，它具有更深的景深和更高的對比度，使得即使是微小的細節也能清晰可見。更重要的是，由于X射線具有較強的穿透能力，因此它可以透過不透明的樣品表面，直接觀察到內部的組織結構。在生命科學領域，X射線三維顯微鏡的應用尤為突出。它可以用于研究動植物組織的...
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